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書名

デバイス・部品の信頼性試験   信頼性110番シリーズ  

著者名 高久 清/[ほか]著
著者名ヨミ タカヒサ キヨシ
出版者 日科技連出版社
出版年月 1992.9


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2021
525.18 525.18
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No. 所蔵館 資料番号 請求番号 配架場所 資料種別 帯出区分 貸出
1 みなと図書0111280558549.8/シ/2書庫1一般和書 

書誌詳細

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タイトルコード 1009210057661
書誌種別 図書
著者名 高久 清/[ほか]著
著者名ヨミ タカヒサ キヨシ
出版者 日科技連出版社
出版年月 1992.9
ページ数 164p
大きさ 21cm
ISBN 4-8171-3028-8
分類記号 549.8
書名 デバイス・部品の信頼性試験   信頼性110番シリーズ  
書名ヨミ デバイス ブヒン ノ シンライセイ シケン 
内容紹介 電子デバイス・部品の信頼性試験の業務に初めて携わる人のために、信頼性試験とはなにか、信頼性を保証するためにはどのような試験を実施したらよいのか、またその時の注意点は、など基礎的な質問から少し専門的なものまで、Q&A方式で答えるノウハウ集。
本体価格 ¥2136
一般件名 半導体 集積回路 信頼性(工学)



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