Detailed information on search result

  • This is detailed information. You have currently reserved magazines.

Library information

この資料の蔵書に関する統計情報です。現在の所蔵数 在庫数 予約数などを確認できます。

Number of owning 1 Number of stock 1 Number of reservation 0

Material information summary

Title of book

半導体デバイスの不良・故障解析技術   信頼性技術叢書  

Author name 二川 清/編著
Author name Yomi ニカワ キヨシ
Bookmaker 日科技連出版社
Publication years 2019.12


この資料に対する操作

カートに入れる を押すと この資料を 予約する候補として予約カートに追加します。

いますぐ予約する を押すと 認証後この資料をすぐに予約します。

この資料に対する操作

電子書籍を読むを押すと 電子図書館に移動しこの資料の電子書籍を読むことができます。


Add to my bookshelfLoginThen I can use my bookshelf.


Material information

各蔵書資料に関する詳細情報です。

No. Library Material number Call number Book location Material type Taking out division Checkout
1 三田図書館0213616931549.8/ニ/開架5F一般和書 

Related Documents

この資料に関連する資料を 同じ著者 出版年 分類 件名 受賞などの切り口でご紹介します。

2019
547.482 547.482
通信プロトコル

Book details

この資料の書誌詳細情報です。

Title code 1000001893096
Bibliography type 図書
Author name 二川 清/編著   上田 修/著   山本 秀和/著
Author name Yomi ニカワ キヨシ ウエダ オサム ヤマモト ヒデカズ
Bookmaker 日科技連出版社
Publication years 2019.12
Page 8,218p
Size 21cm
ISBN 4-8171-9685-9
Classification 549.8
Title of book 半導体デバイスの不良・故障解析技術   信頼性技術叢書  
Title Yomi of book ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ 
Content introduction 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
Author introduction 1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。芝浦工業大学非常勤講師。信頼性技術功労賞など受賞。著書に「はじめてのデバイス評価技術」など。
Price ¥3300
Note 半導体 信頼性(工学)



Content:


Table

To the previous page

本文はここまでです。


ページの終わりです。